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    LMI Gocator 5000 Series
    • 다층 구조에서 여러 프로파일 동시 생성
    • 프로파일당 1972개 데이터 포인트 생성
    • 스캔 속도 최대 40 kHz(가속 포함)
    • 높은 X 해상도, 미크론 미만 단위의 Z 정밀도
    • 다양한 종류의 재료 사용 가능
    • 이중 축 광학 설계로 높은 신호 품질
    • 차세대 온보드 측정 및 검사 소프트웨어 실행
    E-카달로그

    1. 이중 축 광학 설계로 정밀한 측정

    

    • Gocator 5500 센서는 노이즈 내성을 강화한 이중 축(dual-axis) 광학 시스템을 적용하여, 표면 거칠기, 미세 홈, 미세 패턴 등 까다로운 형상에서도 정확한 3D 스캔이 가능합니다.

    

    • 이중 축 설계를 통해 측정 신호 품질을 극대화하고, 표면 반사율 변화나 음영 문제에도 안정적인 데이터를 제공합니다.

    

    2. 고속·고해상도 측정

    

    • 맞춤형 고속 라인 이미지 센서와 고성능 전자 장치를 탑재하여 최대 40 kHz 샘플링 레이트 지원

    

    • X 방향 해상도: 최대 2.5 µm, Z 반복성: 0.05 µm

    

    • 고속 스캔과 높은 해상도를 동시에 제공하여 대량 생산 라인에서도 정밀 검사 가능

    

    3. 3D 단층 촬영 및 멀티 데이터 생성

    

    • 재료의 각 층에 대해 3D 단층 촬영, 3D 지형, 2D 인텐시티 데이터 동시 생성

    

    개별 층 두께 측정, 다층 구조 분석, 보조 층 결함 감지 가능

    

    • 실시간 데이터 확인 및 Pass/Fail 판단 지원

    

    4. 소프트웨어 및 시스템 통합 지원

    

    • 내장된 측정 툴, I/O 연결, PC 기반 다층 프로파일링 가속 기능 제공

    

    웹 기반 인터페이스로 간편한 설정, 실시간 데이터 모니터링, 분석 및 저장 가능

    

    • 기존 자동화 라인과 원활하게 통합 가능하여 생산성과 품질 관리 향상

    스캔 속도 (Hz) 2100 - 39 000
    데이터 포인트 / 프로파일 1792
    X 해상도 (µm) 2.5
    선형성 Z(MR의 +/- %) 0.03
    Z 반복성 (µm) 0.07
    Z 해상도 (µm) 0.15
    이격 거리(CD)(mm) 7.8
    측정 범위(MR)(mm) 1.1
    FOV(mm) 4.3
    거울면 최대 표면 경사(°) ±15.0
    치수(mm) 60 x 190 x 303
    하우징 IP67
    중량(kg) 5
    스캔 속도 (Hz) 4200 - 40 000
    데이터 포인트 / 프로파일 1792
    X 해상도 (µm) 6.5
    선형성 Z(MR의 +/- %) 0.07
    Z 반복성 (µm) 0.17
    Z 해상도 (µm) 0.35
    이격 거리(CD)(mm) 19.1
    측정 범위(MR)(mm) 3
    FOV(mm) 11.6
    거울면 최대 표면 경사(°) ±20.0
    치수(mm) 91 x 354 x 419
    하우징 IP55
    중량(kg) 19
    스캔 속도 (Hz) 3800 - 38 000
    데이터 포인트 / 프로파일 1792
    X 해상도 (µm) 9.9
    선형성 Z(MR의 +/- %) 0.04
    Z 반복성 (µm) 0.42
    Z 해상도 (µm) 0.85
    이격 거리(CD)(mm) 61.3
    측정 범위(MR)(mm) 5.5
    FOV(mm) 17.0
    거울면 최대 표면 경사(°) ±13.5
    치수(mm) 113 x 358 x 440
    하우징 IP50
    중량(kg) 21


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